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温度冲击试验箱技术参数

时间:2011-7-19
 
    适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验,考核和确定电子电工、汽车电器、材料等产品在进行高低温的温度冲击变化后的参数及性能。适用于学校、工厂、军用、科研等单位。
温度冲击试验箱按照GJB150.5-86军用设备环境试验方法 温度冲击试验标准制造。满足GB/T2423.1.2-2001  GJB150.5  GB10592-89等标准。
温度范围:a:-40℃~150℃ b:-55℃~150℃ c:-65℃~150℃
温度波动:高温箱与低温箱均≤±0.5℃(恒温时)
试验温度保持时间:1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长者为准。
温度转换时间:从高温区到低温区或从低温区到高温区≤15s
循环次数:3次
样品区承重:20kg、30kg、50kg
控制系统:采用进口LED数显(P.I.D+S.S.R)微电脑集成控制器
制冷系统:采用法国原装“泰康”全封闭风冷复迭压缩制冷
 
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